QG-C系列高精度非接觸式厚度測(cè)試儀是專(zhuān)業(yè)檢測(cè)薄膜、薄片等材料的厚度性能，適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片，鋼板、木板、玻璃等各種材料的厚度測(cè)量。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.  非接觸測(cè)量：對(duì)產(chǎn)品無(wú)損傷，有效避免了人為因素造成的檢測(cè)誤差;

2.   最小化測(cè)量盲區(qū)：同軸式測(cè)量配置，避免了激光三角傳感器的角度限制，縮小測(cè)量盲區(qū)，適合復(fù)雜細(xì)微結(jié)構(gòu)（如深溝槽結(jié)構(gòu)等）的測(cè)量；

3.  亞微米精度的尺寸及位移復(fù)現(xiàn)能力：系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)最小5.48μm的成像光斑，同時(shí)提高測(cè)量線性度；

4.  高靈敏度光學(xué)非接觸測(cè)量：定制開(kāi)發(fā)的雜散光抑制優(yōu)化光譜儀以及高亮度彩色激光光源，都能夠大幅提高傳感器的測(cè)量靈敏度，

  能夠?qū)Ρ砻娣祷氐臉O弱的光強(qiáng)（如薄膜等透明物體）完成測(cè)量；

5.  多膜層/多層玻璃測(cè)厚能力：適合各種材料的測(cè)量，并能確保對(duì)不同材料的測(cè)量性能，同時(shí)支持多膜層/膠合玻璃的多層厚度測(cè)量；

6.  抗干擾模塊化探頭：安裝于測(cè)量現(xiàn)場(chǎng)的探頭是純光學(xué)器件，通過(guò)光纖與控制器連接，因此可以避免現(xiàn)場(chǎng)電磁干擾對(duì)測(cè)量精度的影響。

 探頭口徑可以設(shè)計(jì)到Φ4mm以下，適合并排布置進(jìn)行多個(gè)關(guān)鍵位置的測(cè)量。同時(shí)探頭可以設(shè)計(jì)到±65°的測(cè)量角度，滿足曲面玻璃的測(cè)量。

在線測(cè)厚儀部分參數(shù)：

備注：產(chǎn)品檢測(cè)探頭上面只是部分展示，有多種型號(hào)，以適用不同材質(zhì)產(chǎn)品及不同精度要求，設(shè)備根據(jù)客戶檢測(cè)產(chǎn)品及相關(guān)檢測(cè)要求定制。

          前期可提供一到二次免費(fèi)樣品檢測(cè)，免費(fèi)出具檢測(cè)方案，歡迎來(lái)電咨詢。